1、研制背景
X-射線衍射分析法目前已廣泛應用于物相的定性或定量分析、晶體結(jié)構分析、材料結(jié)構分析、宏觀應力或微觀應力測定等方面。在不同溫度下測試的樣品物相可能會發(fā)生變化,原位X-射線衍射高低溫樣品臺可以為樣品提供良好的變溫測試條件,從而滿足樣品在不同溫度下的測試需求。
2、產(chǎn)品介紹
文天精策儀器科技(蘇州)有限公司開發(fā)的原位X-射線衍射高低溫樣品臺(下文簡稱XRD冷熱臺),產(chǎn)品系統(tǒng)主體包含XRD冷熱臺、位移樣品架、溫度控制系統(tǒng)、供氣或真空系統(tǒng)和循環(huán)冷卻系統(tǒng)。
XRD冷熱臺現(xiàn)有兩款產(chǎn)品,可以實現(xiàn)的溫度控制范圍分別為:-190°C~600°C,RT~1200°C,在空氣、惰性氣體或真空的環(huán)境條件,與常見的X-射線衍射儀配套使用。XRD冷熱臺適合各種類型的樣品在高低溫下進行X-射線結(jié)構研究,多種樣品架可配合反射和透射模式,支持在現(xiàn)有各種X-射線衍射儀(布魯克、賽默飛、理學等)上改造適配。
3、系統(tǒng)參數(shù)
4、系統(tǒng)特色
(1) 衍射角0-164°
(2) 真空腔室(10-3 mbar)
(3) 負溫下吹氣除霜管路
(4) 可增加試樣溫度監(jiān)測
(5) 可適配衍射儀定制樣品架
(6) 多種樣品架實現(xiàn)反射和透射
(7) 溫控精度高,可編程階梯控溫
(8) 電熱、液氮可實現(xiàn)快速升降溫
(9) 溫控范圍寬(-190~600℃ / RT~1200℃)
(10) 中低溫產(chǎn)品采用銀質(zhì)冷熱傳導,均溫性好
(11) 高溫產(chǎn)品采用陶瓷加熱片,溫度傳感器靠近樣品,精準測量樣品溫度
5、相關案例(變溫X-射線衍射測試)
(1)X-射線衍射儀:賽默飛(Thermo Scientific)
粉末樣品填充
粉末樣品變溫測試
(2)X-射線衍射儀:理學(Rigaku)
鈦合金原位升降溫測試
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